| Identifikační kód |
RIV/61389021:_____/06:00048511 |
| Název v anglickém jazyce |
Transmission electron microscopy of plasma sprayed ceramic deposits |
| Druh |
J - Recenzovaný odborný článek (Jimp, Jsc a Jost) |
| Poddruh |
- |
| Jazyk |
eng - angličtina |
| Obor - skupina |
J - Průmysl |
| Obor |
JH - Keramika, žáruvzdorné materiály a skla |
| Rok uplatnění |
2006 |
| Kód důvěrnosti údajů |
S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů. |
| Počet výskytů výsledku |
2 |
| Počet tvůrců celkem |
1 |
| Počet domácích tvůrců |
1 |
| Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců |
Tomas Chraska (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 6668216) |
| Popis výsledku v anglickém jazyce |
Microstructure of plasma sprayed deposits is usually very complex containing solidified lamellas, microcracks, unmelted particles and small voids. Internal structure of solidified lamellas is often composed of narrow columnar grains or can be amorphous.A powerful tool to study fine microstructures of the coatings and the complexities of the substrate/coating interfaces is the Transmission electron microscope. However, preparation of electron transparent foils, which require thickness below 500 nm, is very difficult especially in case of ceramic coatings on metal substrates. Traditional sample preparation techniques rely on extended ion-milling that tends to generate ion-induced artifacts in the samples. The modified wedge polishing technique introduced in the paper significantly reduces the time required for final ion-milling step. Several samples prepared be the wedge polishing method are documented. |
| Klíčová slova oddělená středníkem |
TEM; sample preparation; plasma spraying; ceramics |
| Stránka www, na které se nachází výsledek |
- |
| Odkaz na údaje z výzkumu |
- |