Zpět na hledáníMapping of mechanical stress in silicon thin films on silicon cantilevers by Raman microspectroscopy (2008)výskyt výsledku
| Identifikační kód | RIV/68378271:_____/08:00320383 |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce | Mapping of mechanical stress in silicon thin films on silicon cantilevers by Raman microspectroscopy |
| Druh | J - Recenzovaný odborný článek (Jimp, Jsc a Jost) |
| Poddruh | - |
| Jazyk | eng - angličtina |
| Obor - skupina | B - Fyzika a matematika |
| Obor | BM - Fyzika pevných látek a magnetismus |
| Rok uplatnění | 2008 |
| Kód důvěrnosti údajů | S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů. |
| Počet výskytů výsledku | 3 |
| Počet tvůrců celkem | 6 |
| Počet domácích tvůrců | 6 |
| Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců | Antonín Fejfar (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 3750299) Jan Kočka (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 6810756) Martin Ledinský (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 5056837) Tomáš Mates (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 8470847) Jiří Stuchlík (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 7483155) Aliaksi Vetushka (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 2171449) |
| Popis výsledku v anglickém jazyce | We have used plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) to deposit silicon thin films (0.2?1 ?m) with different crystallinity fractions on Nanosensors PtIr5 coated atomic force microscopy (AFM) cantilevers (450 x 50 x 2 ?m3). Microscopic measurements of Raman scattering were used to map both internal stress and extrinsic stress induced in the films by bending the cantilevers using a nanomanipulator (Kleindiek Nanotechnik MM3A). Thanks to the excellent elasticity of the cantilevers, the films could be bent to curvature radii down to 300 lm. We observed the stress induced shift of the TO?LO phonon Raman band of more than 3 cm-1 for fully microcrystalline film corresponding to the stress 0.8 GPa. The shift of the similar film with amorphous structure was 2.5 cm-1. |
| Klíčová slova oddělená středníkem | silicon; solar cells; nanocrystals; photovoltaics; Raman scattering; mechanical stress relaxation |
| Stránka www, na které se nachází výsledek | - |
| Odkaz na údaje z výzkumu | - |
Údaje o výsledku v závislosti na druhu výsledku
| Název periodika | Journal of Non-Crystalline Solids |
|---|---|
| ISSN | 0022-3093 |
| e-ISSN | - |
| Svazek periodika | 354 |
| Číslo periodika v rámci uvedeného svazku | 19-25 |
| Stát vydavatele periodika | NL - Nizozemsko |
| Počet stran výsledku | 3 |
| Strana od-do | |
| Kód UT WoS článku podle Web of Science | 000256500400038 |
| EID výsledku v databázi Scopus | - |
| Způsob publikování výsledku | - |
| Předpokládaný termín zveřejnění plného textu výsledku | - |
Ostatní informace o výsledku
| Předkladatel | Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. |
|---|---|
| Dodavatel | AV0 - Akademie věd České republiky (AV ČR ) |
| Rok sběru | 2009 |
| Specifikace | RIV/68378271:_____/08:00320383!RIV09-AV0-68378271 |
| Datum poslední aktualizace výsledku | 20.08.2009 |
| Kontrolní číslo | 11359677 |
Informace o dalších výskytech výsledku dodaného stejným předkladatelem
| Dodáno MŠMT v roce 2009 | RIV/68378271:_____/08:00320383 v dodávce dat RIV09-MSM-68378271/01:1 |
|---|---|
| Dodáno GA ČR v roce 2009 | RIV/68378271:_____/08:00320383 v dodávce dat RIV09-GA0-68378271/01:1 |
Odkazy na výzkumné aktivity, při jejichž řešení výsledek vznikl
| Projekt podporovaný AV ČR v programu IA | IAA1010316 - Mikrokrystalické a nanokrystalické polovodiče pro fotoniku:elektronové děje ve škále nanometrů a femtosekund (2003 - 2007) |
|---|---|
| Projekt podporovaný AV ČR v programu IA | IAA1010413 - Nanověda a nanotechnologie se sondovými mikroskopy: od jevů na atomární úrovni k materiálovým vlastnostem (2004 - 2008) |
| Projekt podporovaný AV ČR v programu KA | KAN400100701 - Funkční hybridní nanosystémy polovodičů a kovů s organickými látkami (FUNS) (2007 - 2011) |
| Projekt podporovaný AV ČR v programu KJ | KJB100100512 - Studium ultrarychlé dynamiky volných nositelů v polovodičích pomocí časově rozlišené terahertzové spektroskopie (2005 - 2007) |
| Výzkumný záměr podporovaný AV ČR | AV0Z10100521 - Fyzikální vlastnosti a příprava nanostruktur, povrchů a tenkých vrstev (2005 - 2010) |