Informační systém výzkumu,
vývoje a inovací

Rejstřík informací o výsledcích

Jednoduché vyhledávání

Zpět na hledáníPhase transitions in ferroelectric Pb0.5Sr0.5TiO3 films probed by spectroscopic ellipsometry (2012)výskyt výsledku

Identifikační kód RIV/68378271:_____/12:00386395
Název v anglickém jazyce Phase transitions in ferroelectric Pb0.5Sr0.5TiO3 films probed by spectroscopic ellipsometry
Druh J - Recenzovaný odborný článek (Jimp, Jsc a Jost)
Poddruh J/A - Článek v odborném periodiku je obsažen v databázi Web of Science společností Thomson Reuters s příznakem „Article“, „Review“ nebo „Letter“ (Jimp)
Jazyk eng - angličtina
Vědní obor 10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Rok uplatnění 2012
Kód důvěrnosti údajů S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů.
Počet výskytů výsledku 3
Počet tvůrců celkem 6
Počet domácích tvůrců 4
Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců Alexandr Dejneka (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 8046859)
Dagmar Chvostová (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 6208991)
Lubomír Jastrabík (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 5193222)
Marina Tyunina (státní příslušnost: LV - Lotyšská republika, domácí tvůrce: A)
J. Levoska (státní příslušnost: FI - Finská republika)
M. Plekh (státní příslušnost: FI - Finská republika)
Popis výsledku v anglickém jazyce Phase transitions occurring in Pb0.5Sr0.5TiO3 films are experimentally studied by combining spectroscopic ellipsometry and low-frequency dielectric analysis. Polycrystalline and polydomain epitaxial films with relaxedmisfit strain and columnarmicrostructure are investigated. The paraelectric and the ferroelectric states, and the temperatures and widths of the paraelectric-to-ferroelectric phase transitions, are identified from the temperature evolution of refractive index measured in transparency range.The temperatures at which transitions start on cooling are found to be considerably higher than the temperatures of the dielectric peaks. In contrast to the broad dielectric peaks, the transition width of 60 K in the polycrystalline film and that of 20K in the polydomain epitaxial film are revealed. The discrepancies between optical and dielectric data are explained by the influence of extrinsic factors on the low-frequency response.
Klíčová slova oddělená středníkem Pb0.5Sr0.5TiO3 fthin films;spectroscopic ellipsometry;phase transitions
Stránka www, na které se nachází výsledek -
DOI výsledku 10.1103/PhysRevB.86.224105
Odkaz na údaje z výzkumu -

Údaje o výsledku v závislosti na druhu výsledku

Název periodika Physical Review. B
ISSN 1098-0121
e-ISSN -
Svazek periodika 86
Číslo periodika v rámci uvedeného svazku 22
Stát vydavatele periodika US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku 6
Strana od-do
Kód UT WoS článku podle Web of Science 000312023600002
EID výsledku v databázi Scopus -
Způsob publikování výsledku -
Předpokládaný termín zveřejnění plného textu výsledku -

Ostatní informace o výsledku

Předkladatel Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Dodavatel AV0 - Akademie věd České republiky (AV ČR )
Rok sběru 2015
Specifikace RIV/68378271:_____/12:00386395!RIV15-AV0-68378271
Datum poslední aktualizace výsledku 07.03.2018
Kontrolní číslo 191958126

Informace o dalších výskytech výsledku dodaného stejným předkladatelem

Dodáno GA ČR v roce 2015 RIV/68378271:_____/12:00386395 v dodávce dat RIV15-GA0-68378271/01:1
Dodáno TA ČR v roce 2015 RIV/68378271:_____/12:00386395 v dodávce dat RIV15-TA0-68378271/01:1

Odkazy na výzkumné aktivity, při jejichž řešení výsledek vznikl

Výzkumný záměr podporovaný AV ČR AV0Z10100522 - Vlnové a částicové šíření světla, optické materiály a technologie (2005 - 2010)
Vyhledávání ...