Zpět na hledáníPhase transitions in ferroelectric Pb0.5Sr0.5TiO3 films probed by spectroscopic ellipsometry (2012)výskyt výsledku
Identifikační kód | RIV/68378271:_____/12:00386395 |
---|---|
Název v anglickém jazyce | Phase transitions in ferroelectric Pb0.5Sr0.5TiO3 films probed by spectroscopic ellipsometry |
Druh | J - Recenzovaný odborný článek (Jimp, Jsc a Jost) |
Poddruh | J/A - Článek v odborném periodiku je obsažen v databázi Web of Science společností Thomson Reuters s příznakem „Article“, „Review“ nebo „Letter“ (Jimp) |
Jazyk | eng - angličtina |
Vědní obor | 10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.) |
Rok uplatnění | 2012 |
Kód důvěrnosti údajů | S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů. |
Počet výskytů výsledku | 3 |
Počet tvůrců celkem | 6 |
Počet domácích tvůrců | 4 |
Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců | Alexandr Dejneka (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 8046859) Dagmar Chvostová (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 6208991) Lubomír Jastrabík (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 5193222) Marina Tyunina (státní příslušnost: LV - Lotyšská republika, domácí tvůrce: A) J. Levoska (státní příslušnost: FI - Finská republika) M. Plekh (státní příslušnost: FI - Finská republika) |
Popis výsledku v anglickém jazyce | Phase transitions occurring in Pb0.5Sr0.5TiO3 films are experimentally studied by combining spectroscopic ellipsometry and low-frequency dielectric analysis. Polycrystalline and polydomain epitaxial films with relaxedmisfit strain and columnarmicrostructure are investigated. The paraelectric and the ferroelectric states, and the temperatures and widths of the paraelectric-to-ferroelectric phase transitions, are identified from the temperature evolution of refractive index measured in transparency range.The temperatures at which transitions start on cooling are found to be considerably higher than the temperatures of the dielectric peaks. In contrast to the broad dielectric peaks, the transition width of 60 K in the polycrystalline film and that of 20K in the polydomain epitaxial film are revealed. The discrepancies between optical and dielectric data are explained by the influence of extrinsic factors on the low-frequency response. |
Klíčová slova oddělená středníkem | Pb0.5Sr0.5TiO3 fthin films;spectroscopic ellipsometry;phase transitions |
Stránka www, na které se nachází výsledek | - |
DOI výsledku | 10.1103/PhysRevB.86.224105 |
Odkaz na údaje z výzkumu | - |
Údaje o výsledku v závislosti na druhu výsledku
Název periodika | Physical Review. B |
---|---|
ISSN | 1098-0121 |
e-ISSN | - |
Svazek periodika | 86 |
Číslo periodika v rámci uvedeného svazku | 22 |
Stát vydavatele periodika | US - Spojené státy americké |
Počet stran výsledku | 6 |
Strana od-do | |
Kód UT WoS článku podle Web of Science | 000312023600002 |
EID výsledku v databázi Scopus | - |
Způsob publikování výsledku | - |
Předpokládaný termín zveřejnění plného textu výsledku | - |
Ostatní informace o výsledku
Předkladatel | Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. |
---|---|
Dodavatel | AV0 - Akademie věd České republiky (AV ČR ) |
Rok sběru | 2015 |
Specifikace | RIV/68378271:_____/12:00386395!RIV15-AV0-68378271 |
Datum poslední aktualizace výsledku | 07.03.2018 |
Kontrolní číslo | 191958126 |
Informace o dalších výskytech výsledku dodaného stejným předkladatelem
Dodáno GA ČR v roce 2015 | RIV/68378271:_____/12:00386395 v dodávce dat RIV15-GA0-68378271/01:1 |
---|---|
Dodáno TA ČR v roce 2015 | RIV/68378271:_____/12:00386395 v dodávce dat RIV15-TA0-68378271/01:1 |
Odkazy na výzkumné aktivity, při jejichž řešení výsledek vznikl
Výzkumný záměr podporovaný AV ČR | AV0Z10100522 - Vlnové a částicové šíření světla, optické materiály a technologie (2005 - 2010) |
---|