| Identifikační kód |
RIV/61389005:_____/19:00523893 |
| Název v anglickém jazyce |
Angular dependence of track-etch detector Harzlas TD-1 |
| Druh |
J - Recenzovaný odborný článek (Jimp, Jsc a Jost) |
| Poddruh |
J/A - Článek v odborném periodiku je obsažen v databázi Web of Science společností Thomson Reuters s příznakem „Article“, „Review“ nebo „Letter“ (Jimp) |
| Jazyk |
eng - angličtina |
| Vědní obor |
10509 - Meteorology and atmospheric sciences |
| Rok uplatnění |
2019 |
| Kód důvěrnosti údajů |
S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů. |
| Počet výskytů výsledku |
2 |
| Počet tvůrců celkem |
5 |
| Počet domácích tvůrců |
2 |
| Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců |
Iva Ambrožová (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 5514088, orcid: 0000-0002-2329-5783, researcherid: G-9822-2014)
Kateřina Pachnerová Brabcová (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 7303696, orcid: 0000-0002-5288-6080, researcherid: I-2500-2014)
S. Kodaira (státní příslušnost: JP - Japonsko)
V. A. Shurshakov (státní příslušnost: RU - Ruská federace)
R. V. Tolochek (státní příslušnost: RU - Ruská federace) |
| Popis výsledku v anglickém jazyce |
Track-etched detectors are commonly used also for radiation monitoring onboard International Space Station. To be registered in track-etched detectors, the particle needs to meet several criteria-it must have linear energy transfer above the detection threshold and strike the detector's surface under an angle higher than the so-called critical angle. Linear energy transfer is then estimated from calibration curve from the etch rate ratio V that is calculated from parameters of individual tracks appearing on the detector's surface after chemical etching. It has been observed that V can depend on the incident angle and this dependence can vary for different detector materials, etching and evaluating conditions. To investigate angular dependence, detectors (Harzlas TD-1) were irradiated at HIMAC by several ions under angles from 0° to 90°. The correction accounting not only for critical angle but also for dependence of V on the incident angle is introduced and applied to spectra measured onboard International Space Station. |
| Klíčová slova oddělená středníkem |
tracks;Alpha particles;bulk etch |
| Stránka www, na které se nachází výsledek |
https://doi.org/10.1093/rpd/ncz206 |
| DOI výsledku |
10.1093/rpd/ncz206 |
| Odkaz na údaje z výzkumu |
- |