| Identifikační kód |
RIV/68081731:_____/17:00481766 |
| Název v původním jazyce | Mikroskopie velmi pomalými elektrony v ultrazvukovém vakuu |
|---|
| Název v anglickém jazyce |
Very slow electrons microscope in ultrahigh vacuum |
| Druh |
J - Recenzovaný odborný článek (Jimp, Jsc a Jost) |
| Poddruh |
J/C - Ostatní články v odborných recenzovaných periodicích splňující definici druhu výsledku (Jost) |
| Jazyk |
cze - čeština |
| Vědní obor |
20501 - Materials engineering |
| Rok uplatnění |
2017 |
| Kód důvěrnosti údajů |
S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů. |
| Počet výskytů výsledku |
2 |
| Počet tvůrců celkem |
5 |
| Počet domácích tvůrců |
5 |
| Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců |
Luděk Frank (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 9000984, researcherid: G-1122-2014)
Eliška Mikmeková (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 7759177, researcherid: E-1335-2012)
Šárka Mikmeková (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 6440959, researcherid: E-1346-2012)
Ilona Müllerová (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 7708017, researcherid: D-4216-2012)
Jakub Piňos (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 7362722, researcherid: D-6536-2015) |
| Popis výsledku v původním jazyce | Článek představuje již třetí verzi ultravysokovakuového mikroskopu s velmi pomalými elektrony vyvinutého a vyrobeného v ÚPT AVČR v Brně. Tento mikroskop je světově unikátním zařízením umožňujícím experimenty na speciálně připravených površích pevných látek. Mimořádné požadavky kladené na technické zpracování dílů pro UHV demonstrují možnosti precizní výroby v dílnách ústavu i spolupráci vědeckých oddělení například při svařování dílů elektronovým svazkem. |
|---|
| Popis výsledku v anglickém jazyce |
This paper presents the third version of ultrahigh vacuum, very slownelectrons microscope, developed and manufactured at ISI CAS innBrno. This microscope is a unique tool for material analysis onnthe clean surfaces. Exceptional requirements for UHV componentnquality demonstrate the possibilities of precision manufacturing innthe workshops and a collaboration of scientific departments at theninstitute. For instance, we can mention the electron beam weldingnof vacuum parts. |
| Klíčová slova oddělená středníkem |
scanning microscopy;slow electrons;ultrahigh vacuum;graphene |
| Stránka www, na které se nachází výsledek |
- |
| Odkaz na údaje z výzkumu |
- |