Zpět na hledáníDržák vzorku elektronového mikroskopu (2019)výskyt výsledku
| Identifikační kód | RIV/68081731:_____/19:00518941 |
|---|---|
| Název v původním jazyce | Držák vzorku elektronového mikroskopu |
| Název v anglickém jazyce | Electron microscope sample holder |
| Druh | F - Výsledky s právní ochranou (užitný vzor, průmyslový vzor) |
| Poddruh | F/U - Užitný vzor (Fuzit) |
| Jazyk | cze - čeština |
| Vědní obor | 20201 - Electrical and electronic engineering |
| Rok uplatnění | 2019 |
| Kód důvěrnosti údajů | S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů. |
| Počet výskytů výsledku | 2 |
| Počet původců celkem | 8 |
| Počet domácích původců | 8 |
| Výčet všech uvedených jednotlivých původců | Luděk Frank (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 9000984, scopusid: 7201908445, researcherid: G-1122-2014) Pavel Klein (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 7482035) Ivo Konvalina (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 9612653, orcid: 0000-0002-5215-4648, scopusid: 7801460338, researcherid: B-2804-2009) Eliška Mikmeková (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 7759177, researcherid: E-1335-2012) Ilona Müllerová (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 7708017, orcid: 0000-0001-7337-2655, scopusid: 6701646326, researcherid: D-4216-2012) Jakub Piňos (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 7362722, orcid: 0000-0001-6993-8660, scopusid: 57193455189, researcherid: D-6536-2015) Lukáš Průcha (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 7325900, orcid: 0000-0002-0774-7815) Jiří Sýkora (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 6633129) |
| Popis výsledku v původním jazyce | Držák vzorku (TEM mřížky s grafénem) pro UHV elektronový mikroskop, na který je možno přivést předpětí. |
| Popis výsledku v anglickém jazyce | Samples holder (TEM grids covered by graphene) prepared for UHV electron microscope equipped with negative biasing system. |
| Klíčová slova oddělená středníkem | electron microscopy, samples holder, UHV, bias, TEM grids Anotace v ČJ a AJ;samples holder;UHV;bias;TEM grids |
| Stránka www, na které se nachází výsledek | https://isdv.upv.cz/webapp/!resdb.pta.frm |
| Odkaz na údaje z výzkumu | - |
Údaje o výsledku v závislosti na druhu výsledku
| Číslo patentu nebo vzoru | 33509 |
|---|---|
| Vydavatel | CZ001 |
| Název vydavatele | Industrial Property Office |
| Místo vydání | Prague |
| Stát vydání | CZ - Česká republika |
| Datum přijetí | 04.12.2019 |
| Název vlastníka | Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. |
| Způsob využití | A - Při pouze uděleném patentu nebo patentu |
| Druh možnosti využití | P - Nabytí licence je nutné v některých případech |
Ostatní informace o výsledku
| Předkladatel | Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. |
|---|---|
| Dodavatel | AV0 - Akademie věd České republiky (AV ČR ) |
| Rok sběru | 2020 |
| Specifikace | RIV/68081731:_____/19:00518941!RIV20-AV0-68081731 |
| Datum poslední aktualizace výsledku | 06.05.2020 |
| Kontrolní číslo | 192165488 ( v1.0 ) |
Informace o dalších výskytech výsledku dodaného stejným předkladatelem
| Dodáno TA ČR v roce 2020 | RIV/68081731:_____/19:00518941 v dodávce dat RIV20-TA0-68081731/01:2 |
|---|
Odkazy na výzkumné aktivity, při jejichž řešení výsledek vznikl
| Podpora / návaznosti | Institucionální podpora na rozvoj výzkumné organizace |
|---|