| Identifikační kód |
RIV/68081731:_____/22:00571242 |
| Název v anglickém jazyce |
Contamination mitigation strategy for SEMs |
| Druh |
O - Ostatní výsledky, které nelze zařadit do žádného z definovaných druhů výsledků |
| Jazyk |
eng - angličtina |
| Vědní obor |
20501 - Materials engineering |
| Rok uplatnění |
2022 |
| Kód důvěrnosti údajů |
S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů. |
| Počet výskytů výsledku |
2 |
| Počet tvůrců celkem |
3 |
| Počet domácích tvůrců |
3 |
| Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců |
Ivo Konvalina (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 9612653, orcid: 0000-0002-5215-4648, scopusid: 7801460338, researcherid: B-2804-2009)
Eliška Materna-Mikmeková (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 7759177)
Ilona Müllerová (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 7708017, orcid: 0000-0001-7337-2655, scopusid: 6701646326, researcherid: D-4216-2012) |
| Popis výsledku v anglickém jazyce |
Müllerová, I., Materna-Mikmeková, E., Konvalina, I. Contamination mitigation strategy for SEMs. TN01000008/30-V003. 2022. Contamination in modern electron microscopy is at the forefront of interest and mainly concerns the deposition of a carbon based film on the surface from adsorbed hydrocarbons. The report deals with effects describing the growth/removal of contamination caused by electron irradiation and to describe in detail the influence of electron beam parameters on the balance between deposition and desorption processes. |
| Klíčová slova oddělená středníkem |
contamination;low energy electron microscopy;2D crystals |
| Stránka www, na které se nachází výsledek |
- |
| Odkaz na údaje z výzkumu |
- |