Zpět na hledáníNew insights on atomic-resolution frequency-modulation Kelvin-probe force-microscopy imaging of semiconductors (2009)výskyt výsledku
| Identifikační kód | RIV/68378271:_____/09:00339531 |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce | New insights on atomic-resolution frequency-modulation Kelvin-probe force-microscopy imaging of semiconductors |
| Druh | J - Recenzovaný odborný článek (Jimp, Jsc a Jost) |
| Poddruh | - |
| Jazyk | eng - angličtina |
| Obor - skupina | B - Fyzika a matematika |
| Obor | BM - Fyzika pevných látek a magnetismus |
| Rok uplatnění | 2009 |
| Kód důvěrnosti údajů | S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů. |
| Počet výskytů výsledku | 2 |
| Počet tvůrců celkem | 8 |
| Počet domácích tvůrců | 1 |
| Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců | Pavel Jelínek (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 3095207) M. Abe (státní příslušnost: JP - Japonsko) Ó. Custance (státní příslušnost: JP - Japonsko) Ch.-K. Fang (státní příslušnost: JP - Japonsko) S. Morita (státní příslušnost: JP - Japonsko) S. Sadewasser (státní příslušnost: DE - Spolková republika Německo) Y. Sugimoto (státní příslušnost: JP - Japonsko) Y. Yamada (státní příslušnost: JP - Japonsko) |
| Popis výsledku v anglickém jazyce | We present dynamic force-microscopy experiment and first-principles simulations that contribute to clarify the origin of atomic-scale contrast in Kelvin-probe force-microscopy (KPFM) images of semiconductor surfaces. |
| Klíčová slova oddělená středníkem | KPFM; atomic force microscopy; DFT; atomic resolution; semiconductor surface |
| Stránka www, na které se nachází výsledek | - |
| Odkaz na údaje z výzkumu | - |
Údaje o výsledku v závislosti na druhu výsledku
| Název periodika | Physical Review Letters |
|---|---|
| ISSN | 0031-9007 |
| e-ISSN | - |
| Svazek periodika | 103 |
| Číslo periodika v rámci uvedeného svazku | 26 |
| Stát vydavatele periodika | US - Spojené státy americké |
| Počet stran výsledku | 4 |
| Strana od-do | |
| Kód UT WoS článku podle Web of Science | 000273232200029 |
| EID výsledku v databázi Scopus | - |
| Způsob publikování výsledku | - |
| Předpokládaný termín zveřejnění plného textu výsledku | - |
Ostatní informace o výsledku
| Předkladatel | Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. |
|---|---|
| Dodavatel | AV0 - Akademie věd České republiky (AV ČR ) |
| Rok sběru | 2010 |
| Specifikace | RIV/68378271:_____/09:00339531!RIV10-AV0-68378271 |
| Datum poslední aktualizace výsledku | 26.05.2010 |
| Kontrolní číslo | 11894394 |
Informace o dalších výskytech výsledku dodaného stejným předkladatelem
| Dodáno GA ČR v roce 2010 | RIV/68378271:_____/09:00339531 v dodávce dat RIV10-GA0-68378271/01:1 |
|---|
Odkazy na výzkumné aktivity, při jejichž řešení výsledek vznikl
| Projekt podporovaný AV ČR v programu IA | IAA100100905 - Experimentální a teoretická analýza defektů na površích kysličníků kovu a polovodičů (2009 - 2012) |
|---|---|
| Výzkumný záměr podporovaný AV ČR | AV0Z10100521 - Fyzikální vlastnosti a příprava nanostruktur, povrchů a tenkých vrstev (2005 - 2010) |