Informační systém výzkumu,
vývoje a inovací

Rejstřík informací o výsledcích

Jednoduché vyhledávání

Zpět na hledáníFeS2 thin films deposition by reactive high power magnetron sputtering in Ar+H2S gas mixture (2016)výskyt výsledku

Identifikační kód RIV/68378271:_____/16:00464298
Název v anglickém jazyce FeS2 thin films deposition by reactive high power magnetron sputtering in Ar+H2S gas mixture
Druh O - Ostatní výsledky, které nelze zařadit do žádného z definovaných druhů výsledků
Jazyk eng - angličtina
Obor - skupina B - Fyzika a matematika
Obor BL - Fyzika plasmatu a výboje v plynech
Rok uplatnění 2016
Kód důvěrnosti údajů S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů.
Počet výskytů výsledku 2
Počet tvůrců celkem 4
Počet domácích tvůrců 4
Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců Martin Čada (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 9254927)
Zdeněk Hubička (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 2296268)
Štěpán Kment (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 9773185)
Jiří Olejníček (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 4267281)
Popis výsledku v anglickém jazyce Polycrystalline and nanocrystalline semiconducting iron pyrite FeS2 is recently an attractive material for optoelectronic and photonic applications. Due to its relatively large optical absorption coefficient in the visible region and narrow band gap of 0.95 ev this material can be suitable for applications in photovoltaics, photodetectors and photoelectrochemistry. Semiconducting polycrystalline and nanocrystalline FeS2 thin films were deposited by high power impulse magnetron reactive sputtering system (R-HIPIMS). The magnetron system with SmCo magnets and a pure circular iron target (diameter 50 mm) was used for the impulse reactive sputtering. The gas mixture of Ar and H2S was used for the reactive sputtering process. The partial pressure of H2S in the deposition plasma reactor was changed in a wide range. The substrate was heated during the deposition by an external furnace and the deposition temperature was controlled in the range 300-600 K.
Klíčová slova oddělená středníkem sputtering;HIPIMS;films;semiconductor;deposition
Stránka www, na které se nachází výsledek -
Odkaz na údaje z výzkumu -

Ostatní informace o výsledku

Předkladatel Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Dodavatel AV0 - Akademie věd České republiky (AV ČR )
Rok sběru 2017
Specifikace RIV/68378271:_____/16:00464298!RIV17-AV0-68378271
Datum poslední aktualizace výsledku 05.05.2017
Kontrolní číslo 191865487 ( v1.0 )

Informace o dalších výskytech výsledku dodaného stejným předkladatelem

Dodáno TA ČR v roce 2017 RIV/68378271:_____/16:00464298 v dodávce dat RIV17-TA0-68378271/01:1

Odkazy na výzkumné aktivity, při jejichž řešení výsledek vznikl

Podpora / návaznosti Institucionální podpora na rozvoj výzkumné organizace
Vyhledávání ...