Identifikační kód |
RIV/68378271:_____/17:00519440 |
Název v anglickém jazyce |
Statistical analysis of 2D patterns and its application to astrometry |
Druh |
D - Stať ve sborníku |
Jazyk |
eng - angličtina |
Vědní obor |
10303 - Particles and field physics |
Rok uplatnění |
2017 |
Kód důvěrnosti údajů |
S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů. |
Počet výskytů výsledku |
1 |
Počet tvůrců celkem |
2 |
Počet domácích tvůrců |
2 |
Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců |
Karel Píška (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 9662278, researcherid: H-1507-2014) Petr Závada (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 1101803, researcherid: H-1415-2014) |
Popis výsledku v anglickém jazyce |
A general statistical procedure for analysis of finite 2D patterns, inspired by analysis of heavy-ion data, is developed. The method is verified in the study of publicly available data obtained by the Gaia-ESA mission. We prove that the procedure can be sensitive to the limits of accuracy of measurement, but it can also clearly identify the real physical effects on the large background of random distributions. As an example, the method confirms presence of binary and ternary star systems in the studied data. At the same time the possibility of statistical detection of gravitational microlensing effect is discussed. |
Klíčová slova oddělená středníkem |
dimension 2;background: random, statistical;statistical analysis;gravitation;heavy ion;binary;star |
Stránka www, na které se nachází výsledek |
http://hdl.handle.net/11104/0304427 |
DOI výsledku |
10.1088/1742-6596/938/1/012037 |
Odkaz na údaje z výzkumu |
- |